基本信息
| 标准名称： | 半导体电视集成电路行场扫描电路测试方法的基本原理 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
半导体集成电路 |
| 替代情况： | 调整为SJ/T 11006-1996 |
| 发布日期： | 1900-01-01 |
| 实施日期： | 1989-02-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 20页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
【英文标准名称】:Testingofceramicmaterials;determinationofthepermanentlinearchangeofburnedrefractorybricks-shrinkageorgrowth(NS/NW)withoutanyload,brickswithatotalporositymorethan45vol.-%
【原文标准名称】:陶瓷原材料的检验；在未加压情况下.总孔隙率超过体积45%焙烧过的耐火砖的永久性长度变化永久缩短或永久伸长的测定(NS/NW)
【标准号】:DIN51066-2-1976
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1976-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;原材料;陶瓷;孔隙率;石;耐熔的;试验
【英文主题词】:refractory;ceramics;porosity;definitions;stone;testing;rawmaterials
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q40;Q30
【国际标准分类号】:81_080
【页数】:3P;A4
【正文语种】:德语