【英文标准名称】:Materialsforinterconnectionstructures-Part8:Sectionalspecificationsetfornon-conductivefilmsandcoatings-Section7:Markinglegendinks
【原文标准名称】:互连结构用材料第8部分:非导电薄膜和涂层分规范集第7节:打印油墨
【标准号】:IEC61249-8-7-1996
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:1996-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC91
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分规范;覆层;规范;印制电路;互连接;电子设备及元件
【英文主题词】:Coatings;Components;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Inks;Interconnection;Interconnectionstructures;Lacquers;Letterings;Materials;Nonconducting;Printedcircuits;Printed-circuitboards;Sectionalspecification;Specification;Specification(approval);Specifications;Varnishes
【摘要】:Detailsrequirementsforthequalificationofmarkinginksusedforlegendsandotheridentificationsusedonprintedboards.
【中国标准分类号】:M36
【国际标准分类号】:31_180
【页数】:26P.;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 直流电位差计检定规程 |
| 英文名称： | Verification Regulation of D.C. potentiometers |
| 中标分类： |
综合 >>
计量 >>
电磁计量 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象 >>
电学、磁学、电和磁的测量
|
| 替代情况： | JJG 123-1988 |
| 发布日期： | 2004-09-21 |
| 实施日期： | 2005-03-21 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 提出单位： | 全国电磁计量技术委员会 |
| 归口单位： | 全国电磁计量技术委员会 |
| 起草单位： | 上海市计量测试技术研究院 |
| 起草人： | 严玮良、史小涛 |
| 出版社： | 中国计量出版社 |
| 出版日期： | 2005-02-03 |
| 页数： | 28页 |
| 书号： | 155026-1846 |
适用范围
本规程适用于准确度等级为0.0005级～0.1级的电阻型直流电位差计的首次检定，后需检定和使用中间检验。本规程不适用于：
a)自动获得零平衡的电位差计
b)用平衡检测器刻度获得部分指示的电位差计；
c)直流比较仪式电位差计；
d)其他特殊用途的电位差计。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类： 综合 计量 电磁计量 计量学和测量 物理现象 电学 磁学 电和磁的测量
【英文标准名称】:Processmanagementforavionics.Aerospacequalifiedelectroniccomponents(AQEC).Generalrequirementsforhighreliabilityintegratedcircuitsanddiscretesemiconductors
【原文标准名称】:航空电子设备的过程管理.航空航天合格的电子元件(AQEC).高可靠性集成电路和分立半导体的一般要求
【标准号】:BSDDIEC/PAS62686-1-2011
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2011-07-31
【实施或试行日期】:2011-07-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Aeronauticalengineering;Aerospacetransport;Airtransport;Avionics;Definitions;Electricalequipment;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Electronicproducts;Heavy-duty;Integratedcircuits;Microcircuits;Microswitches;Processmanagement;Quality;Qualityassurance;Reliability;Semiconductordevices;Semiconductors
【摘要】:
【中国标准分类号】:V41
【国际标准分类号】:49_060
【页数】:52P;A4
【正文语种】:英语